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如何測(cè)試U盤壽命能用多久圖文圖文教程

發(fā)布時(shí)間:2022-05-03 文章來(lái)源:xp下載站 瀏覽:

U盤的稱呼最早來(lái)源于朗科科技生產(chǎn)的一種新型存儲(chǔ)設(shè)備,名曰“優(yōu)盤”,使用USB接口進(jìn)行連接。U盤連接到電腦的USB接口后,U盤的資料可與電腦交換。而之后生產(chǎn)的類似技術(shù)的設(shè)備由于朗科已進(jìn)行專利注冊(cè),而不能再稱之為“優(yōu)盤”,而改稱“U盤”。后來(lái),U盤這個(gè)稱呼因其簡(jiǎn)單易記而因而廣為人知,是移動(dòng)存儲(chǔ)設(shè)備之一。現(xiàn)在市面上出現(xiàn)了許多支持多種端口的U盤,即三通U盤(USB電腦端口、iOS蘋果接口、安卓接口)。

      閑的沒(méi)事用對(duì)一個(gè)臺(tái)電黑膠體U盤做了一次全掃,發(fā)現(xiàn)了有3處錯(cuò)誤。于是想下載量產(chǎn)工具對(duì)其進(jìn)行壞塊屏蔽(這個(gè)盤本來(lái)也沒(méi)用幾次,主要拿去打印店打印文檔的),經(jīng)過(guò)這個(gè)U盤來(lái)測(cè)試一般TLC閃存的U盤壽命有多久;以下軟件都可以點(diǎn)名字去免費(fèi)下載到。
1.        討論Flash壽命測(cè)試方法
2.        HD Tune壞塊檢測(cè)功能對(duì)于Flash產(chǎn)品不適用
3.        可使用檢測(cè)U盤邏輯儲(chǔ)存錯(cuò)誤以判斷U盤狀態(tài)
U盤用chipgenius檢查具體信息如下:
怎么測(cè)試U盤壽命能用多久圖文教程

檢測(cè)結(jié)果如下:
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8GB 閃迪 TLC 主控型號(hào)為:
量產(chǎn)圖
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打開(kāi)量產(chǎn)工具發(fā)現(xiàn)該工具并不支持低格及壞塊掃描,于是判斷該主控可能不支持壞塊管理和磨損平衡,于是萌生了測(cè)試U盤壽命的想法。
1.        壽命測(cè)試
使用軟件Check Flash對(duì)U盤進(jìn)行寫入校檢,測(cè)試邏輯存儲(chǔ)錯(cuò)誤。由于該U盤不支持平衡磨損,遂將U盤格式化為Fat32,系統(tǒng)最大只能使用4GB作為測(cè)試空間。黑膠體U盤很容易發(fā)熱,所以采用水冷方式散熱,溫度保持在20℃。
歷經(jīng)一周多日日夜夜的連續(xù)測(cè)試,數(shù)據(jù)如下,其中,縱軸代表邏輯存儲(chǔ)錯(cuò)誤個(gè)數(shù),橫軸代表寫入次數(shù)。
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可以看到,寫入次數(shù)在120次之前,邏輯錯(cuò)誤個(gè)數(shù)較穩(wěn)定,當(dāng)寫入次數(shù)在150次之后,邏輯錯(cuò)誤個(gè)數(shù)井噴式增長(zhǎng),寫入達(dá)到200次時(shí),我終止了測(cè)試。這個(gè)盤能夠穩(wěn)定使用的寫入周期已經(jīng)明了。。。
之前我曾使用同樣方法測(cè)試一款群聯(lián)主控U盤,在燒入鏡像后留出10MB空間用于測(cè)試,結(jié)果寫入周期達(dá)到50000次時(shí)仍未發(fā)現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤井噴式增長(zhǎng)。原因可能是由于主控支持磨損平衡,而我劃分的測(cè)試區(qū)域又小,不足以抵抗磨損平衡算法。
因此,測(cè)試Flash壽命的可靠方法有二:1)使用不支持磨損平衡的主控---貌似不多了 2)全盤寫入校檢---用時(shí)長(zhǎng)
2.        在測(cè)試結(jié)束后,使用HD Tune掃描U盤壞塊:
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你沒(méi)看錯(cuò),全綠通過(guò)!而我將右邊圖形顯示方式改為速度圖后,結(jié)果完全變了。。。
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從壞塊圖中我們無(wú)法看到經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試之后這個(gè)U盤有任何問(wèn)題,而其速度圖可以直觀的顯示出測(cè)試區(qū)(4GB)和未測(cè)試區(qū)(3.6GB)的速度差異!
主 要原因:經(jīng)過(guò)多次寫入,該部分Flash已經(jīng)出現(xiàn)所謂壞塊,只不過(guò)HD Tune是以磁盤容量來(lái)劃分每個(gè)測(cè)試塊大小,當(dāng)壞塊個(gè)數(shù)(容量)低于某一個(gè)值時(shí),整個(gè)HD測(cè)試塊并不會(huì)劃定為已經(jīng)損壞。但是在進(jìn)行讀寫操作時(shí),大量的 Flash壞塊會(huì)導(dǎo)致延遲增大,這也是為何HD Tune兩種圖差異明顯的原因。因此我認(rèn)為HD Tune或是相似原理的軟件不適合檢測(cè)U盤的健康狀態(tài)。
3.        Check Flash 可以用來(lái)測(cè)試U盤健康狀態(tài)
之 所以選用Check Flash 是因?yàn)樗梢跃_顯示每個(gè)扇區(qū)物理地址的錯(cuò)誤,例如TLC測(cè)試時(shí),寫入 010101 ,而校驗(yàn)時(shí)發(fā)現(xiàn) 000101,那么這就算一個(gè)錯(cuò)誤。雖然ECC可以修正這種錯(cuò)誤,但是存在這么一個(gè)不穩(wěn)定的扇區(qū),相信大家也是會(huì)想辦法修正的吧。之前簡(jiǎn)單測(cè)試過(guò),安國(guó)主 控ECC2以內(nèi),一個(gè)邏輯錯(cuò)誤都沒(méi)有,越大邏輯錯(cuò)誤越多。


U盤有USB接口,是USB設(shè)備。如果操作系統(tǒng)是WindowsXP/Vista/Win7/Linux/PrayayaQ3或是蘋果系統(tǒng)的話,將U盤直接插到機(jī)箱前面板或后面的USB接口上,系統(tǒng)就會(huì)自動(dòng)識(shí)別。

本文章關(guān)鍵詞: TLC壽命 U盤壽命測(cè)試 
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