U盤,全稱USB閃存盤,英文名“USB flash disk”。 它是一種使用USB接口的無需物理驅(qū)動器的微型高容量移動存儲產(chǎn)品,通過USB接口與電腦連接,實現(xiàn)即插即用。U盤連接到電腦的USB接口后,U盤的資料可與電腦交換。而之后生產(chǎn)的類似技術(shù)的設(shè)備由于朗科已進行專利注冊,而不能再稱之為“優(yōu)盤”,而改稱“U盤”。后來,U盤這個稱呼因其簡單易記而因而廣為人知,是移動存儲設(shè)備之一,F(xiàn)在市面上出現(xiàn)了許多支持多種端口的U盤,即三通U盤(USB電腦端口、iOS蘋果接口、安卓接口)。 藍屏以及死機是電腦發(fā)生故障的時候最容易出現(xiàn)的,通常來說我們都會根據(jù)提示進行排查問題的所在,一般都是在軟件硬件。但是有時候內(nèi)存發(fā)生問題也是存在的,使用U盤啟動盤制作工具來進行內(nèi)存健康檢測是一種很好的辦法。
如何制作U盤啟動盤這里不多介紹,可以點擊:快啟動U盤啟動盤制作教程;
U盤啟動盤進行內(nèi)存測試方法步驟:
1、制作好的快啟動U盤啟動盤插入電腦,重啟電腦,按下相應(yīng)的啟動快捷鍵進入快啟動的主菜單界面后選擇“運行硬盤內(nèi)存檢測掃描工具菜單”后按回車鍵確認(rèn)。

2、在檢測工具菜單下利用鍵盤上的方向鍵將光標(biāo)移至“運行 Memtest 內(nèi)存檢測”后按下回車鍵“Enter”鍵確認(rèn)即可。 
3、當(dāng)我們按下回車鍵時系統(tǒng)便會自動進行內(nèi)存檢測,檢測的時間大約會在2小時左右,等待時間可能有點長,耐心等待。 
內(nèi)存檢測的過程中的相關(guān)數(shù)值說明:
Pass:表示檢測過程中的整體進度;
Test:表示檢測當(dāng)前進度;
WallTime:檢測時長,大約會在2小時左右;
Pass:進行內(nèi)存檢測的次數(shù),經(jīng)過這一次檢測后,下次檢測時這里的數(shù)值將會是“1”,并且每一次的檢測都會累計上去。
Error ECC Errs:檢測錯誤的次數(shù)和地點將會在此顯示出來。
以上步驟便是關(guān)于怎么使用U盤啟動盤進行內(nèi)存測試的方法介紹,其重要使用的工具是MemTest,因為檢測的時間非常漫長,建議用戶在睡前或者時間空閑時再踐行。
備注: 文章部分內(nèi)容參考自互聯(lián)網(wǎng)
U盤最大的優(yōu)點就是:小巧便于攜帶、存儲容量大、價格便宜、性能可靠。
|